高级搜索

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

真空烘烤和Cs蒸汽对单通道电子倍增器某些电性能的影响

李行实

李行实. 真空烘烤和Cs蒸汽对单通道电子倍增器某些电性能的影响[J]. 电子与信息学报, 1983, 5(1): 58-63.
引用本文: 李行实. 真空烘烤和Cs蒸汽对单通道电子倍增器某些电性能的影响[J]. 电子与信息学报, 1983, 5(1): 58-63.
Li Xing-Shi. INFLUENCE OF BAKE-OUT AND Cs VAPOUR ON SOME PROPERTIES OF CHANNEL ELECTRON MULTIPLIER(CEM) IN VACUUM[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1983, 5(1): 58-63.
Citation: Li Xing-Shi. INFLUENCE OF BAKE-OUT AND Cs VAPOUR ON SOME PROPERTIES OF CHANNEL ELECTRON MULTIPLIER(CEM) IN VACUUM[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1983, 5(1): 58-63.

真空烘烤和Cs蒸汽对单通道电子倍增器某些电性能的影响

INFLUENCE OF BAKE-OUT AND Cs VAPOUR ON SOME PROPERTIES OF CHANNEL ELECTRON MULTIPLIER(CEM) IN VACUUM

  • 摘要: 正 单通道电子倍增器(简称CEM)作为辐射探测器已应用于有关科技领域。本实验的目的在于了解在包含光电阴极和CEM的器件内,烘烤温度和Cs蒸汽对CEM的电阻和电子增益的影响。 (一)实验装置和测量方法 实验测量装置原理图如图1所示
      关键词:
    •  
  • 加载中
计量
  • 文章访问数:  1794
  • HTML全文浏览量:  109
  • PDF下载量:  353
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1981-10-04
  • 刊出日期:  1983-01-19

目录

    /

    返回文章
    返回