高级搜索

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

光电导归一化法测量-Si:H隙态密度

徐乐 刘启一

徐乐, 刘启一. 光电导归一化法测量-Si:H隙态密度[J]. 电子与信息学报, 1986, 8(3): 217-222.
引用本文: 徐乐, 刘启一. 光电导归一化法测量-Si:H隙态密度[J]. 电子与信息学报, 1986, 8(3): 217-222.
Xu Le, Liu Qiyi. MEASUREMENT OF THE DENSITY OF THE GAP STATES IN a-Si:H BY THE NORMALIZATION OF PHOTOCONDUCTIVITY[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1986, 8(3): 217-222.
Citation: Xu Le, Liu Qiyi. MEASUREMENT OF THE DENSITY OF THE GAP STATES IN a-Si:H BY THE NORMALIZATION OF PHOTOCONDUCTIVITY[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1986, 8(3): 217-222.

光电导归一化法测量-Si:H隙态密度

MEASUREMENT OF THE DENSITY OF THE GAP STATES IN a-Si:H BY THE NORMALIZATION OF PHOTOCONDUCTIVITY

  • 摘要: 本文用光电导归一化法得出 -Si:H膜在低吸收区的光吸收系数谱;用电子从价带的指数尾态和导带边以下1.0 eV处,由悬挂键形成的局域态到导带扩展态的跃迁,解释了实验结果;并从而得出费米能级EF以下的隙态密度,通过对复合动力学的研究,还得到费米能级以上(EFn-EF)的局域态密度的平均值,从而得出费米能级以上部份的态密度。结果表明导带尾比价带尾窄。
      关键词:
    •  
  • M. Nack, M. Shur, W. Czubatyj, J. Yang and J. McGill,J.Non-Cryst. Solids, 59/60(1983), 1115.[2]Y. Kuwano, S. Tsuda and M. Ohnishi, Jpn J. Appl. Phys., 21(1982), 235.[3]M. Vanecek, J. Kocka, J. Stucklik and A. Triska, Solid State Comm., 39(1981), 1199.[4]M. Vanecek, J. Kocka, J. Stuchlik, Z. Kozisek, O. Stika and A. Triska, Solar Energy Materials, 8(1983), 411.[5]C. B. Roxlo, B. Abeles, C. R. Wronski, G. D. Cody and T. Tiedje, Solid State Comm., 47(1983),985.[6]T. Tiedje, J. M. Cebulka, D. L. Morel and B. Abeles; Phys. Rev. Lett., 21(1981), 1425.[7]G. Moddel, D. A. Anderson and W. Paul, Phys. Rev., B22(1980), 1918.[8]Xu Le, D. K. Reinhard and M. G. Thompson, IEEE Trans. on ED,ED-29(1982), 1004.[9]徐乐,电子科学学刊, 7(1985), 458.[10]A. Rose, Concepts in Photoconductivity and Allied Problems, Interscience, New York, 1963, p.38.[11]F. Evangelisti, P. Fiorini G. Fortunato and C. Giovannella, Solid State Comm., 47(1983), 107.[12]B. Abeles, C. R. Wronski, T. Tiedje and G. D. Cody, ibid., 36(1980), 537.[13]J. D .Cohen, D. V. Lang and J. P. Harbison, Phys. Rev. Lett., 45(1980), 197.[14]C. R. Wronski, B. Abeles, T. Tiedje and G. D. Cody, Solid State Comm., 44(1982), 1423.
  • 加载中
计量
  • 文章访问数:  2232
  • HTML全文浏览量:  150
  • PDF下载量:  409
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1900-01-01
  • 修回日期:  1900-01-01
  • 刊出日期:  1986-05-19

目录

    /

    返回文章
    返回