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高温超导微波电路衬底材料复介电常数的测量

唐宗熙 张其劭

唐宗熙, 张其劭. 高温超导微波电路衬底材料复介电常数的测量[J]. 电子与信息学报, 1996, 18(3): 317-321.
引用本文: 唐宗熙, 张其劭. 高温超导微波电路衬底材料复介电常数的测量[J]. 电子与信息学报, 1996, 18(3): 317-321.
Tang Zongxi, Zhang Qishao. MEASUREMENT OF COMPLEX PERMITTIVITY OF MIC SUBSTRATES FOR DEPOSITION OF HTS THIN FILMS[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1996, 18(3): 317-321.
Citation: Tang Zongxi, Zhang Qishao. MEASUREMENT OF COMPLEX PERMITTIVITY OF MIC SUBSTRATES FOR DEPOSITION OF HTS THIN FILMS[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1996, 18(3): 317-321.

高温超导微波电路衬底材料复介电常数的测量

MEASUREMENT OF COMPLEX PERMITTIVITY OF MIC SUBSTRATES FOR DEPOSITION OF HTS THIN FILMS

  • 摘要: 本文讨论了在液氮温度下高温超导微波电路介质衬底材料复介电常数测试技术。利用TMono模高Q圆柱形谐振腔,对高温超导常用的几种单晶介质材料进行了测试。结果表明,该测试技术在不同温度下,可对低耗单晶和各向同性介质材料进行准确的测试,且测试简便、迅速、自动化程度高,具有测试介质材料某一方向复介电常数的优点。
  • Wu M K, et al. Phys[J].Rev. Lett.1987, 58(5):908-910[2]Konopka J, et al. Dielectric Properties of Substrates for Deposition of High-Tc Thin Films up to[3]GHz, 1992 Applied Superconductivity Conference. Chicago:Aug. 1992.[4]Sobolewski R,et al. IEEE Trans. on MAG, 1991, MAG-27(2): 876-879.[5]Konapka J, et al. J[J].Appl. Phys.1992, 72(1):218-223[6]R. A 瓦尔特朗著,徐鲤庭译.被导电磁波原理.北京:人民邮电出版社,1977,第五章.
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出版历程
  • 收稿日期:  1994-08-06
  • 修回日期:  1995-04-24
  • 刊出日期:  1996-05-19

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