行波谐振环在测试TR开关管中的应用

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行波谐振环在测试TR开关管中的应用

符春久, 柯锦松, 王芳惠, 董国忠

文章导航 > 电子与信息学报 > 1979 > 1(3): 146-封三

符春久, 柯锦松, 王芳惠, 董国忠. 行波谐振环在测试TR开关管中的应用[J]. 电子与信息学报, 1979, 1(3): 146-封三.

引用本文:

符春久, 柯锦松, 王芳惠, 董国忠. 行波谐振环在测试TR开关管中的应用[J]. 电子与信息学报, 1979, 1(3): 146-封三.

符春久, 柯锦松, 王芳惠, 董国忠. 行波谐振环在测试TR开关管中的应用[J]. 电子与信息学报, 1979, 1(3): 146-封三.

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符春久, 柯锦松, 王芳惠, 董国忠. 行波谐振环在测试TR开关管中的应用[J]. 电子与信息学报, 1979, 1(3): 146-封三.

行波谐振环在测试TR开关管中的应用

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出版历程
- 刊出日期: 1979-07-19

摘要: 正用行波谐振环的谐振方法将功率放大若干倍后,对TR开关管或其他微波元件进行高功率模拟测试的突出优点是,使用较低的微波功率源就能够进行高功率测试。这样的方法既方便又经济。在国外,应用这种方法早已相当普遍,不仅用于测试元件,而且还用在微波加热、考贝烘干和电子加速器等方面。在国内,则还没有见到有关这方面的工作和报道

参考文献(1)

S. J. Miller, Microwarc J. 3(1960), 50.

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