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利用无损压缩降低循环冗余校验的错误漏检率及其电路实现

董刚 杨海钢

董刚, 杨海钢. 利用无损压缩降低循环冗余校验的错误漏检率及其电路实现[J]. 电子与信息学报, 2010, 32(3): 705-709. doi: 10.3724/SP.J.1146.2009.00255
引用本文: 董刚, 杨海钢. 利用无损压缩降低循环冗余校验的错误漏检率及其电路实现[J]. 电子与信息学报, 2010, 32(3): 705-709. doi: 10.3724/SP.J.1146.2009.00255
Dong Gang, Yang Hai-gang. Reducing Undetected Error Rate of CRC Coding Based on Lossless Compression and Implement in Circuits[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 2010, 32(3): 705-709. doi: 10.3724/SP.J.1146.2009.00255
Citation: Dong Gang, Yang Hai-gang. Reducing Undetected Error Rate of CRC Coding Based on Lossless Compression and Implement in Circuits[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 2010, 32(3): 705-709. doi: 10.3724/SP.J.1146.2009.00255

利用无损压缩降低循环冗余校验的错误漏检率及其电路实现

doi: 10.3724/SP.J.1146.2009.00255

Reducing Undetected Error Rate of CRC Coding Based on Lossless Compression and Implement in Circuits

  • 摘要: 循环冗余校验(CRC)算法在很多领域都有广泛的应用。对于确定格式的CRC校验码生成多项式,其错误漏检率基本为确定值。因此待检数据的长度越大,出现错误而不会被检测到的机会也就越多。为了解决这方面存在的问题,该文利用无损压缩霍夫曼算法缩短待测数据的长度,从而降低了数据出错之后不能被检测到的概率。并设计出相应的可靠性校验电路。与单纯使用CRC校验的方法相比,该文提出的方法可以将出错的几率下降为原来的万分之一以下。设计得到的电路模块可以作为VLSI中的可靠性电路模块(IP)加以利用。
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出版历程
  • 收稿日期:  2009-03-03
  • 修回日期:  2009-07-16
  • 刊出日期:  2010-03-19

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