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考虑工艺波动影响的RLC互连统计延时

李建伟 董刚 杨银堂 王增

李建伟, 董刚, 杨银堂, 王增. 考虑工艺波动影响的RLC互连统计延时[J]. 电子与信息学报, 2009, 31(11): 2767-2771. doi: 10.3724/SP.J.1146.2009.00031
引用本文: 李建伟, 董刚, 杨银堂, 王增. 考虑工艺波动影响的RLC互连统计延时[J]. 电子与信息学报, 2009, 31(11): 2767-2771. doi: 10.3724/SP.J.1146.2009.00031
Li Jian-wei, Dong Gang, Yang Yin-tang, Wang Zeng. Statistical RLC Interconnect Delay Considering Process Variations[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 2009, 31(11): 2767-2771. doi: 10.3724/SP.J.1146.2009.00031
Citation: Li Jian-wei, Dong Gang, Yang Yin-tang, Wang Zeng. Statistical RLC Interconnect Delay Considering Process Variations[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 2009, 31(11): 2767-2771. doi: 10.3724/SP.J.1146.2009.00031

考虑工艺波动影响的RLC互连统计延时

doi: 10.3724/SP.J.1146.2009.00031
基金项目: 

国家自然科学基金(60606006),国家杰出青年基金(60725415)和重点实验室基金(9140C030102060C0303)资助课题

Statistical RLC Interconnect Delay Considering Process Variations

  • 摘要: 该文提出了一种考虑工艺波动的统计RLC互连延时分析方法。文中首先给出了考虑工艺波动的寄生参数和矩的构建方法,然后基于Weibull分布给出了RLC互连的统计延时模型。所提方法同样适用于已有的延时模型如Elmore模型,等效Elmore模型和D2M模型。通过对几种模型的比较,表明,基于Weibull分布的RLC互连的统计延时模型是最精确的,和HSPICE相比,50%延时误差最大0.11%,蒙特卡洛分析中的均值和平均偏差误差最大2.02%。
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出版历程
  • 收稿日期:  2009-01-09
  • 修回日期:  2009-07-21
  • 刊出日期:  2009-11-19

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