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液相外延HgCdTe的研究

王雷 高鼎三 吴仰贤

王雷, 高鼎三, 吴仰贤. 液相外延HgCdTe的研究[J]. 电子与信息学报, 1987, 9(5): 428-434.
引用本文: 王雷, 高鼎三, 吴仰贤. 液相外延HgCdTe的研究[J]. 电子与信息学报, 1987, 9(5): 428-434.
Wang Lei, Gao Dingsan, Wu Yangxian. STUDY ON LEP OF HgCdTe AND CONTROL OF Hg PRESSURE[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1987, 9(5): 428-434.
Citation: Wang Lei, Gao Dingsan, Wu Yangxian. STUDY ON LEP OF HgCdTe AND CONTROL OF Hg PRESSURE[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1987, 9(5): 428-434.

液相外延HgCdTe的研究

STUDY ON LEP OF HgCdTe AND CONTROL OF Hg PRESSURE

  • 摘要: 本文对液相外延生长HgCdTe及其汞压控制进行了研究。在理论上对开管滑动系统中汞损失的影响作了分析和计算,提出了准平衡汞压的方法。在实验中设计制作了独特的汞回流装置,实现了对汞压的控制。通过生长工艺的条件实验,得到了各工艺参数影响外延片性能的关系,制备出表面光亮,组分为x=0.2110.002,x=0.280.001的Hg1-xCdxTe外延片。在77K下n型(未退火)和P型外延片的迁移率分别为3.36105cm2/Vs和1.81103cm2/Vs,载流子浓度分别为1.091015cm-3和1.041016cm-3。
      关键词:
    •  
  • 董培芝,激光与红外,3(1984), 30.[2]R. K. Willardson and A. C. Beer, Semiconductor and Setnimetal, Vol. 18, Academic Press, New York, (1981).[3]A. W. Vere, D. J. Willams and J. B. Mullin, Liquid Phase Epitax Growth of HgCdTe, AD-A120027,(1982).[4]T. Tung and C. H. Su, J. Vac. Sci. Techmol, 21(1982), 117.
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出版历程
  • 收稿日期:  1986-03-22
  • 修回日期:  1986-12-15
  • 刊出日期:  1987-09-19

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