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中子擅变掺杂直拉硅的内吸除效应

张维连 徐岳生 李养贤

张维连, 徐岳生, 李养贤. 中子擅变掺杂直拉硅的内吸除效应[J]. 电子与信息学报, 1991, 13(5): 556-560.
引用本文: 张维连, 徐岳生, 李养贤. 中子擅变掺杂直拉硅的内吸除效应[J]. 电子与信息学报, 1991, 13(5): 556-560.
Zhang Weilian, Xu Yuesheng, Li Yangxian. THE INTRINSIC GETTERING EFFECT OF NTDCZSI[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1991, 13(5): 556-560.
Citation: Zhang Weilian, Xu Yuesheng, Li Yangxian. THE INTRINSIC GETTERING EFFECT OF NTDCZSI[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1991, 13(5): 556-560.

中子擅变掺杂直拉硅的内吸除效应

THE INTRINSIC GETTERING EFFECT OF NTDCZSI

  • 摘要: 中子嬗变掺杂直拉硅的内吸除机理与直拉硅不同,它是辐照缺陷与硅中氧杂质相互作用的结果。在1100℃、热退火4h即可完成中子嬗变掺杂直拉硅的内吸除处理。
  • T. Y. Tan, et al., Appl. Phys. Lett, 30(1977), 175.[2]J. G. Wilkes, J. Crystal. Growth, 65(1983), 214.[3]T. M. Brown, Semiconductor International, 5(1987), 233.[4]S. M. Hu, Appl. Phys. Lett, 53(1977), 31.[5]C. A. Londos, Jpn. J. Appl. Phys., 27(1982), 2089.[6]V. V. Voronkov, J. Crystal Growth, 59(1982), 625.[7]Л.С.斯米尔诺夫著,王正元等译,半导体的核反应方法掺杂,科学出版社,1986年,第108页.[8][8][9]曹国深,半导体硅文集,国际硅材料学术会议专刊,上海有色金属研究所出版,1988年,第3页.[10]张维连等,河北工学院学报,18(1989),33.[11]H. Harada, et al., Semiconductor Silicon, H. R. Huff, T. Abe, and B. Kolbesen, Editors, Plenum, The Flew trochem. Soc., Softbound, Proceeding Series, Pennington, NJ, (1986).[12]F. Shimura, et al., J. Electrochem. Soc, 5(1982), 1064.[13]张维连,半导体技术,5(1988),1.
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出版历程
  • 收稿日期:  1990-02-26
  • 修回日期:  1990-06-27
  • 刊出日期:  1991-09-19

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