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测量热阴极次级发射特性的扫描电子探针法

杨凌云 毛独立

杨凌云, 毛独立. 测量热阴极次级发射特性的扫描电子探针法[J]. 电子与信息学报, 1987, 9(4): 359-363.
引用本文: 杨凌云, 毛独立. 测量热阴极次级发射特性的扫描电子探针法[J]. 电子与信息学报, 1987, 9(4): 359-363.
Yang Lingyun, Mao Duli. A SCANNING LOW ENERGY ELECTRON PROBE FOR MEASURING THE SECONDARY EMISSION OF THERMIONIC CATHODES[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1987, 9(4): 359-363.
Citation: Yang Lingyun, Mao Duli. A SCANNING LOW ENERGY ELECTRON PROBE FOR MEASURING THE SECONDARY EMISSION OF THERMIONIC CATHODES[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1987, 9(4): 359-363.

测量热阴极次级发射特性的扫描电子探针法

A SCANNING LOW ENERGY ELECTRON PROBE FOR MEASURING THE SECONDARY EMISSION OF THERMIONIC CATHODES

  • 摘要: 本文介绍了一种适用于量测热阴极次级发射特性的扫描电子探针法,原电子探束束斑直径为50100m,束流小于10-7A,原电子能量不大于3kV。该装置能定点测量热阴极表面上感兴趣点的次级发射系数与原电子能量间的关系曲线(-Ep);也能以扫描方式在短时间内测出整个热阴极表面的次级发射分布,从而求得次级发射的定量分布曲线(f-)。该装置在电视制式的扫描方式工作时,能观察热阴极表面的次级发射图象。 对纯镍样品的测量表明:该装置具有比单枪定点法更多的优点和更高的精度。由于该装置简便灵活,便于与热阴极研究的特殊需要相结合,因此,可望在热阴极的研究中发挥作用。
      关键词:
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  • R. Jepson and M. Muller, J. Appl. phys., 22(1951), 1196.[2]I. Brodie, Brit. J. Appl. Phys., 8(1957), 202.[3]J. B. Johnson, Phys. Rev., 66(1944), 952.[4]H. Salow, Z. Tech. Phys., 2(1940), 8.[5]童林风, 睢江程, 真空科学与技术,4(1984), 381.[6]刘学悫, 阴极电子学, 科学出版社, 北京,1980, P 395.[7]R. E. Thoms and C. D. Morrill, Appl Sur Sci., 16(1983), 292.[8]张恩虬,刘学悫, 电子科学学刊,6(1984), 89.
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出版历程
  • 收稿日期:  1985-06-14
  • 修回日期:  1986-10-20
  • 刊出日期:  1987-07-19

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