晶体管放大器的闪变调相噪声
FLICKER PHASE NOISE IN TRANSISTORIZED AMPLIFIER
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摘要: 本文导出了由晶体管高频调谐放大器的闪变调相噪声,决定的频率稳定度(频域的表征相位功率谱密度S△'1(f)和时域的表征阿伦方差y2())与晶体管参数的关系式,并进行了实验验证。
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关键词:
Abstract: The relation betweem the frequency stability due to the flicker phase noise (phase power spectrum density S△(f) in frequency domain and Allen variance y2() in time domain) and the parameters of the transistors have been derived and experimen-tally verified. -
小宫山牧児, 安田嘉之,電子通信学会论文志,J60-B(1977),197.[2]张凤祥,电子计测与频率控制,1980年,第4期,第68页.[3]张凤祥,电子学通讯,4(1982), 145.[4]武者利光，応用物理,46(1977), 1144.[5]津田建二,日经エレクトロニクワス,第196号,(1978),p.66.[6]张凤祥,宇航计测技术,1982年,第3期,第44页. -
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