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晶体管非线性失真分析

何放 胡思福

何放, 胡思福. 晶体管非线性失真分析[J]. 电子与信息学报, 1992, 14(2): 190-198.
引用本文: 何放, 胡思福. 晶体管非线性失真分析[J]. 电子与信息学报, 1992, 14(2): 190-198.
He Fang, Hu Sifu. NONLINEAR DISTORTION ANALYSIS OF BIPOLARTRANSISTOR[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1992, 14(2): 190-198.
Citation: He Fang, Hu Sifu. NONLINEAR DISTORTION ANALYSIS OF BIPOLARTRANSISTOR[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1992, 14(2): 190-198.

晶体管非线性失真分析

NONLINEAR DISTORTION ANALYSIS OF BIPOLARTRANSISTOR

  • 摘要: 本文从器件物理和结构上提出双极型晶体管非线性失真模型。模型包含8个参量:(1)有效基区展宽效应;(2)发射极电流集边效应;(3)基区电导调制效应;(4)发射结电阻的非线性效应;(5)发射结电容的非线性效应;(6)集电结电容的非线性效应;(7)寄生电容的非线性效应;(8)电流放大系数和雪崩倍增效应与电压的非线性关系。利用Taylor级数展开分析各模型参数,并编制了计算程序,定量计算了互调失真与工作频率、发射极条宽、基区宽度、发射极线电流密度,基区掺杂浓度等重要参数的关系。计算结果与实验结果基本吻合。
  • S. Narayanan, Bell Sys. Tech. J., 46(1967)5, 991-1024.[2]J. T, Chea, C. P. Snapp, IEEE Trans, on MTT, MTT-27(1979), 423-430.[3]H. C. Poon, IEEE Trans, on ED, ED-19(1972), 719-739.[4]Y. L. Kao, IEEE Trans, on CT, CT-20(1973), 709-716.[5]H. Abraham, R. G. Meyer, IEEE Trans, on ED, ED-23(1976), 1290-1299.[6]O. Muler, Proc. IEEE., 58(1970)7, 1112-1121.[7]陈星弼,唐茂成,晶体管原理与设计,成都电讯工程学院出版社,1987年.
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出版历程
  • 收稿日期:  1991-01-31
  • 修回日期:  1991-07-08
  • 刊出日期:  1992-03-19

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