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热阴极发射特性的微机化测量和分析

曾海山 杨凌云 叶毓林

曾海山, 杨凌云, 叶毓林. 热阴极发射特性的微机化测量和分析[J]. 电子与信息学报, 1988, 10(2): 165-173.
引用本文: 曾海山, 杨凌云, 叶毓林. 热阴极发射特性的微机化测量和分析[J]. 电子与信息学报, 1988, 10(2): 165-173.
Zeng Haishan, Yang Linyun, Ye Yulin . MICROCOMPUTERIZED MEASUREMENT AND ANALYSIS OF ELECTRON EMISSION PROPERTIES OF THERMIONIC CATHODES[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1988, 10(2): 165-173.
Citation: Zeng Haishan, Yang Linyun, Ye Yulin . MICROCOMPUTERIZED MEASUREMENT AND ANALYSIS OF ELECTRON EMISSION PROPERTIES OF THERMIONIC CATHODES[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1988, 10(2): 165-173.

热阴极发射特性的微机化测量和分析

MICROCOMPUTERIZED MEASUREMENT AND ANALYSIS OF ELECTRON EMISSION PROPERTIES OF THERMIONIC CATHODES

  • 摘要: 本文介绍了一套微机化热阴极发射特性测量系统。用它能快速自动地获取伏安特性数据,精度为0.05%(满标量程),一条曲线所需时间少于5s,用它还能获取Schottky外延零场发射、拐点发射、转折点发射、平均有效逸出功、Richardson逸出功、工作温度下阴极表面的逸出功分布等反映阴极特性的重要信息。 对四种阴极的研究结果表明,本系统特别适合于用来研究阴极激活、老炼、中毒和寿命过程中活性的变化。通过对一种栅控行波管的测量,证明本系统可用来监测整管中阴极的活性。
  • W. P. C. Mills, et al., Int. J. Electronics, 31(1971), 145.[2]M. J. Cattelino, G. V. Miram, W. R. Ayers, IEDM. San Francisco. 1982, p.36.[3]M. Feinleib, M. C. Green, IEDM, San Francisco, 1984, p.314.[4]A. H. Beck and De-an Wang, Int. J Electronics, 51(1981), 717.[5]J. Hasker, Application of Surface Science, 16(1983), 220.[6]C. E. Maloney, C. S. Fang, Applied Surface Science, 24(1985), 407.[7]J. C. Tonnerre, D. Brion, P. Palluel, A. M. Shroff, Application of Surface Science, 16(1983), 238.[8]杨凌云, 王书绅, 电子学通讯, 4(1982), 384.[9]刘学悫,阴极电子学,科学出版社,1980.[10]E. B. Hensley, J. Appl. Phys., 32(1961), 301.[11]American Standard Methods of Test Electron Tubes, American Standards Association Incorporated, 1963.[12]曾海山,热发射测量微机化与实用热阴极发射特性研究,中国科学院电子学研究所硕士论文,1986年9月.
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出版历程
  • 收稿日期:  1986-02-14
  • 修回日期:  1987-10-20
  • 刊出日期:  1988-03-19

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