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电路三要素理论和布尔代数失效原因分析

方振贤 刘莹

方振贤, 刘莹. 电路三要素理论和布尔代数失效原因分析[J]. 电子与信息学报, 1999, 21(6): 806-813.
引用本文: 方振贤, 刘莹. 电路三要素理论和布尔代数失效原因分析[J]. 电子与信息学报, 1999, 21(6): 806-813.
Fang Zhenxian, Liu Ying. THEORY OF THREE ESSENTIAL CIRCUIT ELEMENTS AND FAILURE ANALYSIS OF BOOLEAN ALGEBRA[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1999, 21(6): 806-813.
Citation: Fang Zhenxian, Liu Ying. THEORY OF THREE ESSENTIAL CIRCUIT ELEMENTS AND FAILURE ANALYSIS OF BOOLEAN ALGEBRA[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1999, 21(6): 806-813.

电路三要素理论和布尔代数失效原因分析

THEORY OF THREE ESSENTIAL CIRCUIT ELEMENTS AND FAILURE ANALYSIS OF BOOLEAN ALGEBRA

  • 摘要: 本文提出一个克服布尔代数失效的电路三要素理论。文中首先分析布尔代数在数字电路中失效的原因,接着证明开关运算定理等,它概括了文献中曾需一一证明的绝大多数开关运算等式,然后表明:数字电路的统一性既存在于门级和元件级电路间,也存在于各型元件级电路结构间,以及动态与静态电路间。此外,本文提出元件级电路设计的卡诺图方法和代数方法。
  • 方振贤, 刘莹. 完整数字电路理论和三值代数. 电子科学学刊,1996,18(6): 612-619.[2]方振贤, 刘莹. 动态和静态电路通用设计方法. 计算机学报, 1996, 19(11): 861-866.[3]吴训威. 多值逻辑电路设计原理, 杭州: 杭州大学出版社, 1994. 10, 315-333.[4]胡谋. 多值开关级代数在MOs电路形式验证中的应用. 计算机学报, 1994, 17(11): 223-226.[5]树下三行, 浅田邦博, 唐津修著, 裴武焕译. 超大规模集成电路设计Ⅱ. 北京:科学出版社, 1991,193-201.[6]阎石主编. 数字电子技术基础.高等教育出版社, 1989.3, 6-147.[7]方振贤. 指数运算和故障诊断. 计算机学报, 1991, 14(5): 399-400.[8]刘莹. 按位指数运算与故障诊断. 黑龙江自动化技术与应用, 1994, 13(11): 19-21.[9]方振贤. 二值网络故障检测与三值代数. 黑龙江大学自然科学学报, 1991, 8(3): 88-92.[10]方振贤. 三值代数与三值故障诊断.计算机学报, 1982, 5(6): 411-416.
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出版历程
  • 收稿日期:  1998-03-10
  • 修回日期:  1998-12-02
  • 刊出日期:  1999-11-19

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