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VHDL高级综合中的多目标工艺映射方法

马聪 杨勋 刘明业

马聪, 杨勋, 刘明业. VHDL高级综合中的多目标工艺映射方法[J]. 电子与信息学报, 2000, 22(1): 1-5.
引用本文: 马聪, 杨勋, 刘明业. VHDL高级综合中的多目标工艺映射方法[J]. 电子与信息学报, 2000, 22(1): 1-5.
Ma Cong, Yang Xun, Liu Mingye. A METHODOLOGY OF TECHNOLOGY MAPPING FOR MULTI-TARGET IN VHDL HIGH LEVEL SYNTHESIS SYSTEM[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 2000, 22(1): 1-5.
Citation: Ma Cong, Yang Xun, Liu Mingye. A METHODOLOGY OF TECHNOLOGY MAPPING FOR MULTI-TARGET IN VHDL HIGH LEVEL SYNTHESIS SYSTEM[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 2000, 22(1): 1-5.

VHDL高级综合中的多目标工艺映射方法

A METHODOLOGY OF TECHNOLOGY MAPPING FOR MULTI-TARGET IN VHDL HIGH LEVEL SYNTHESIS SYSTEM

  • 摘要: 从国内情况看,高级综合系统的目标,即后端CAD版图工具可分为两大类。一类只能接收门级网表;而另一类其单元库较为完备,往往能接收较大颗粒度的宏单元。针对这种情况,本文研究高级综合结果与后端工艺的衔接问题。提出多目标多层次工艺映射(MLTMMT)策略,旨在与多种工艺衔接。解决实现该策略的有关问题:(1)给出多目标工艺映射方法的形式化描述;(2)给出在多个层次上的多目标工艺映射方法;(3)分析研究多种工艺库,提出一种面积和延时的线性模型;(4)给出RTL通用元件集;(5)建立多种工艺VHDL模拟模型。所实现的系统已完成与三种工艺衔接,验证了本文工作。
  • 刘明业,等.专用集成电路(ASIC)高级综合理论.北京:北京理工大学出版社,1998,179-246.[2]马聪,刘明业,等.VHDL高级综合与底层物理设计的衔接,电子学报,1998,26(2):71-73.[3]Chaadhuris,Quayle M.Using conmplex sequential models in RTL synthesis Proc.Ninth Annual IEEE International ASIC Conference and Exhibit Rochester,NY,USA:23-27,Sept.1996,139-142[4]Chaudhary K,Pedram M Computing the area versus delay trade-off curves in technology mapping IEEE Trans.On Conp.-Aided Des.Of Integr.Circuits Syst.1995,14(12):1480-1489.[5]Shih-Chien Chang,Marek-Sadowdka M. Technology mapping for TLU FPGAs based on decomposition of binary decision diagrams,IEEE Trans,on Comp.-Aided Des.Of Integr.Circuits Syst 1996,15(10):1226-1236.[6]Jha P K,Durt N D.High-level library mapping for arithmetic components,IEEE Trans.On VLSI Syst.1996,4(2):157-169。[7]马聪、刘明业,等.高级综合中工艺单元VHDL模拟模型的建立方法.计算机辅助设计与图形学学报,1998,10(增刊):143-147.
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出版历程
  • 收稿日期:  1998-05-08
  • 修回日期:  1999-02-28
  • 刊出日期:  2000-01-19

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