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故障验证体系的可诊性理论

杨祖樱 张志涌

杨祖樱, 张志涌. 故障验证体系的可诊性理论[J]. 电子与信息学报, 1996, 18(2): 158-163.
引用本文: 杨祖樱, 张志涌. 故障验证体系的可诊性理论[J]. 电子与信息学报, 1996, 18(2): 158-163.
Yang Zuying, Zhang Zhiyong . DIAGNOSABILITY THEORIES IN VERIFICATION TECHNIQUES FOR ANALOG FAULT DIAGNOSIS WITH TORALENCE[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1996, 18(2): 158-163.
Citation: Yang Zuying, Zhang Zhiyong . DIAGNOSABILITY THEORIES IN VERIFICATION TECHNIQUES FOR ANALOG FAULT DIAGNOSIS WITH TORALENCE[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1996, 18(2): 158-163.

故障验证体系的可诊性理论

DIAGNOSABILITY THEORIES IN VERIFICATION TECHNIQUES FOR ANALOG FAULT DIAGNOSIS WITH TORALENCE

  • 摘要: 本文首先通过Voronoi超球面描述了故障验证方法体系中全部特征子阵的最近邻关系,再通过摄动理论分析了测量电压变化阵k维最大方向能量子空间的酉基阵对故障特征子阵的偏差干扰角。然后在此基础上讨论了故障验证方法体系可诊性问题,导出了该方法体系在诊断模拟电路故障时的可诊充要条件,并据可诊性质对诊断问题进行了分类界定。
  • Bandler J W, Salama A E. Proc[J].IEEE.1985, 73(8):1279-1325[2]Liu R W (ed.). Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems, New York: Van Nostrand Reinhold, 1991, 1-35.[3]Golub G, Van Loan C F. Matrix Computations, Baltimore: Johns Hopkins Univ. Press, 1983, 428-431.[4]Stewart G W. SIAM Review, 1971, 15(4): 727-764.[5]普雷帕拉塔 E P,沙莫斯 M I,庄心谷译.计算几何导论,北京:科学出版社,1990,232-277.[6][6][7]张志涌,杨祖樱.通信学报,1993, 14(3): 5-12.[8]张志涌,杨祖樱.福州大学学报,1993, 21(5): 305-311.[9]张志涌,杨祖樱.电子科学学刊,1994, 16(6): 598-604.[10]张志涌,杨祖樱.通信学报,1994, 15(4): 21-28.[11]张志涌,杨祖樱.电子学报,1994,22(8): 109-110.
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出版历程
  • 收稿日期:  1995-02-06
  • 修回日期:  1995-07-07
  • 刊出日期:  1996-03-19

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