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利用四探针原理的微波极化干涉仪

刘岐山 庄义元 胡正义 张兆镗

刘岐山, 庄义元, 胡正义, 张兆镗. 利用四探针原理的微波极化干涉仪[J]. 电子与信息学报, 1987, 9(4): 375-379.
引用本文: 刘岐山, 庄义元, 胡正义, 张兆镗. 利用四探针原理的微波极化干涉仪[J]. 电子与信息学报, 1987, 9(4): 375-379.
Liu Qishan, Zhuang Yiyuan, Hu Zhengyi, Zhang Zhaotang. A MICROWAVE POLAR INTERFEROMETER USING FOUR-PROBE PRINCIPLE[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1987, 9(4): 375-379.
Citation: Liu Qishan, Zhuang Yiyuan, Hu Zhengyi, Zhang Zhaotang. A MICROWAVE POLAR INTERFEROMETER USING FOUR-PROBE PRINCIPLE[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1987, 9(4): 375-379.

利用四探针原理的微波极化干涉仪

A MICROWAVE POLAR INTERFEROMETER USING FOUR-PROBE PRINCIPLE

  • 摘要: 本文提出一种利用四探针原理的微波极化干涉仪。四探针系统由两个T形波导分支和一个串连在其间的可调移相器替代。该干涉仪,特别适用于测量瞬变等离子体的参量,并具有同时显示等离子体的传输,反射和带极座标原点的极化特性的能力。在频率10GHz和35GHz下,用日光灯作瞬态放电实验的照片是清晰的。
      关键词:
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  • M. A. Heald and C. B. Warto, Plasma Diagnostics with Microwaves, John Wiley Sonc Inc.,New York, London, Sydney, pp. 192-241.[2]汤世贤,微波测量,国防工业出版社,1981年,第277-279页.[3]张兆镗,刘岐山,胡义正,庄义元,成都电讯工程学院学报,1984年, 第34期,第42-50页.
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出版历程
  • 收稿日期:  1985-12-05
  • 修回日期:  1986-09-16
  • 刊出日期:  1987-07-19

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