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一种计算热阴极蒸发率的方法

郭文湘

郭文湘. 一种计算热阴极蒸发率的方法[J]. 电子与信息学报, 1984, 6(2): 166-171.
引用本文: 郭文湘. 一种计算热阴极蒸发率的方法[J]. 电子与信息学报, 1984, 6(2): 166-171.
Guo Wen-Xiang. A METHOD OF CALCULATING EVAPORATION RATE FOR THERMIONIC CATHODES[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1984, 6(2): 166-171.
Citation: Guo Wen-Xiang. A METHOD OF CALCULATING EVAPORATION RATE FOR THERMIONIC CATHODES[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1984, 6(2): 166-171.

一种计算热阴极蒸发率的方法

A METHOD OF CALCULATING EVAPORATION RATE FOR THERMIONIC CATHODES

  • 摘要: 正 (一)引言 用晶体振荡法测量阴极蒸发率,一般是把阴极当作点蒸发源。这可能是为了便于计算蒸发率。在其它报道,例如文献[3]中,阴极则被当作是平面元蒸发源,蒸发物接受器被当作是阴极面法向上某处的一个平面元。 本文采取有效措施克服了晶体因温度变化引起的振荡频率漂移(晶体谐振频率漂移)对测量蒸发率的影响。这不仅提高了测量蒸发物引起的振荡频率变化(晶体谐振频率变
      关键词:
    •  
  • Standard Recommended Practice for Measurement of Sublimation from Thermionic Emitters, ASTM Standards, F53-68 (Reapproved 1978), 274-281.[3]W. C. Rutledge, A.Milch and E. S. Rittner, J.Appl. Phys., 29(1958), 834.[4]王竹溪著,统计物理学导论,人民教育出版社,1961年,第189页.[5]В.Ф.Коваленко著,旭光电子管厂情报室译,热物理过程和电真空器件,国防工业出版社,1981年,第100页.[6]L. Holland编,薄膜微电子学翻译组译,薄膜微电子学,国防工业出版社,1971年,第194, 223页.[7]K. H. Behrndt and R. W. Love, Vacuum, 12(1962), 1.[8]G. Sauerbrey, Z. Physik, 155(1959), 206.
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出版历程
  • 收稿日期:  1981-08-11
  • 修回日期:  1983-06-27
  • 刊出日期:  1984-03-19

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