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故障的可诊性

张志涌 杨祖樱

张志涌, 杨祖樱. 故障的可诊性[J]. 电子与信息学报, 1994, 16(6): 598-604.
引用本文: 张志涌, 杨祖樱. 故障的可诊性[J]. 电子与信息学报, 1994, 16(6): 598-604.
Zhang Zhiyong, Yang Zuying. -TESTABILITY FOR k-FAULTS DIAGNOSIS[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1994, 16(6): 598-604.
Citation: Zhang Zhiyong, Yang Zuying. -TESTABILITY FOR k-FAULTS DIAGNOSIS[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1994, 16(6): 598-604.

故障的可诊性

-TESTABILITY FOR k-FAULTS DIAGNOSIS

  • 摘要: 本文利用摄动理论和流形距离,首次提出了容差电路k故障可诊条件,该条件定量地描述了容差电路可诊性是如何依赖于电路标称数据和可测得信号的。文章还指出了该可诊条件为合理使用定位故障的极值法提供了理论基础。
  • Liu R W. A Circuit Theoretic Approach to Analog Fault Diagnosis. in Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems. ed. by Liu R W. New York: Van Nostrand Reinhold, 1991, 1-35.[2]Togara Y, Matsumoto T, Arai H. IEEE Trans. on CAS, 1986, CAS-33(10): 992-1009.[3]张志涌,杨祖樱.电子科学学刊,1994,16(1): 18-25.[4]张志涌,杨祖樱.通信学报,1993,14(3):5-10.[5]Davis C, Kahan W M. SIAM J[J].Numer. Anal.1970, 7(1):1-46[6]Golub G, Van Loan C F. Matrix Computations. Baltimore: Johns Hopkins Uaiv. Press, 1983, 428-431.
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出版历程
  • 收稿日期:  1993-10-18
  • 修回日期:  1994-04-18
  • 刊出日期:  1994-11-19

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