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时序电路的冗余状态变换确认研究

何新华 蔡红柳 王维峰

何新华, 蔡红柳, 王维峰. 时序电路的冗余状态变换确认研究[J]. 电子与信息学报, 1999, 21(1): 141-144.
引用本文: 何新华, 蔡红柳, 王维峰. 时序电路的冗余状态变换确认研究[J]. 电子与信息学报, 1999, 21(1): 141-144.
He Xinhua, Cai Hongliu, Wang Weifeng. STATE TRANSITION REDUNDANCE IDENTIFICATION[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1999, 21(1): 141-144.
Citation: He Xinhua, Cai Hongliu, Wang Weifeng. STATE TRANSITION REDUNDANCE IDENTIFICATION[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1999, 21(1): 141-144.

时序电路的冗余状态变换确认研究

STATE TRANSITION REDUNDANCE IDENTIFICATION

  • 摘要: 本文以状态跳变图为基础,深入分析冗余变换与非法变换的特征,提出结构冗余和功能冗余的概念,并讨论了可测、不可测故障与冗余之间的联系。最后结合验证和测试生成,提出状态冗余的隐含遍历确认策略。
  • Cho H, Hachteland G D. Fast sequential ATPG based on implicit state enumeration. ITC91 1991, 67-74.[2]Calazans N. Advanced ordered and manipulation tecniques for BDD. DA92, 1992, 452-457.
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出版历程
  • 收稿日期:  1996-05-14
  • 修回日期:  1998-01-14
  • 刊出日期:  1999-01-19

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