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一种重建层状介质特性剖面的新方法

段方勇 黄载禄 万发贯

段方勇, 黄载禄, 万发贯. 一种重建层状介质特性剖面的新方法[J]. 电子与信息学报, 1993, 15(1): 45-51.
引用本文: 段方勇, 黄载禄, 万发贯. 一种重建层状介质特性剖面的新方法[J]. 电子与信息学报, 1993, 15(1): 45-51.
Duan Fangyong, Huagg Zailu, Wan Faguan. A NEW METHOD OF RECONSTRUCTING PROFILES OF LAYERED MEDIA[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1993, 15(1): 45-51.
Citation: Duan Fangyong, Huagg Zailu, Wan Faguan. A NEW METHOD OF RECONSTRUCTING PROFILES OF LAYERED MEDIA[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1993, 15(1): 45-51.

一种重建层状介质特性剖面的新方法

A NEW METHOD OF RECONSTRUCTING PROFILES OF LAYERED MEDIA

  • 摘要: 本文针对层状介质特性剖面的重建问题,研究了电磁波在层状介质中传播的时域数学模型;然后将层状介质特性剖面重建问题,归结为分布参数系统的参数辨识问题;并在前人工作的基础上,提出了一种新的重建层状介质特性剖面的有效方法。它优于通常的利用反射系数r(k)或脉冲响应来反演势函数V(z)的重建方法。此外本文在重建反演方面应用阶跃梯度分层反演法得出一种快速辨识算法,并给出了仿真实例。
  • Coen. Sbimon, IEEE Trans. on AP, AP-29(1981) 5, 726-732.[2]葛德彪等,电子学报,11(1983)5,33-37.[3]葛德彪,电子学报,15(1987)6,104 -106.[4]陈小安,章文勋,应用科学学报,7(1989)1,30-34.[5]R. Mittra, Inverse Scattering ana Remote Probing, Computer Techniques for Electromagnetics, R. Mittra, Ed., New York, Pergamon, (1973), pp. 372-392.[6]D. Lesselier, J. Opt., 9(1978) 6, 349-358.[7]J.-C. Bolomey, C. Durix,D. Lesselier, IEEE Trans. on AP,AP-27(1979) 3, 244-248.[8]李世智,张宇志,电子学报,18(1990)1,93-98.[9][9][10]A. Bamberger et al., J. Appl. Math. and Optim, No. 5, (1979), 1-47.[11]段方勇,黄载禄,万发贯等,层状介质参数反演的阶跃梯度法,中国地球物理学会年刊,(1991),地震出版社,北京,第4页.
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出版历程
  • 收稿日期:  1991-09-09
  • 修回日期:  1992-03-09
  • 刊出日期:  1993-01-19

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