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铅玻璃微通道板芯料的腐蚀和扫描电镜检测

文宛生

文宛生. 铅玻璃微通道板芯料的腐蚀和扫描电镜检测[J]. 电子与信息学报, 1987, 9(5): 469-472.
引用本文: 文宛生. 铅玻璃微通道板芯料的腐蚀和扫描电镜检测[J]. 电子与信息学报, 1987, 9(5): 469-472.
Wen Wansheng. ETCHING OF THE GLASS-CORE OF Pb GLASS MICROCHANNEL PLATE AND ITS QUALITY EXAMINATION[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1987, 9(5): 469-472.
Citation: Wen Wansheng. ETCHING OF THE GLASS-CORE OF Pb GLASS MICROCHANNEL PLATE AND ITS QUALITY EXAMINATION[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1987, 9(5): 469-472.

铅玻璃微通道板芯料的腐蚀和扫描电镜检测

ETCHING OF THE GLASS-CORE OF Pb GLASS MICROCHANNEL PLATE AND ITS QUALITY EXAMINATION

  • 摘要: 本文用亲电性腐蚀液、静置腐蚀法腐蚀实芯丝铅玻璃微通道板的芯料,并用扫描电镜和X射线能谱仪分析其形貌和化学成份。结果表明,用本腐蚀法可获得内壁光滑、增益高、噪声低的通道板。 文中还提出了一种测量腐蚀速度的新方法。测量结果可靠、重复性好。
      关键词:
    •  
  • H. Pollehn et al., Advances in Electronics and Electron physics, 40A(1976), pp. 21-31,[2]J.L.Wiza, Optical Spectra, 4(1981), 58.[3]R.T.莫里森等著,复旦大学化学系有机化学教研组译,有机化学(上册),科学出版社,1980, p. 144.
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出版历程
  • 收稿日期:  1986-04-22
  • 修回日期:  1986-09-02
  • 刊出日期:  1987-09-19

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