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LB单分子膜中电荷密度的确定

郑茳 黄勤 张佐兰 魏同立 林慈 韦钰

郑茳, 黄勤, 张佐兰, 魏同立, 林慈, 韦钰. LB单分子膜中电荷密度的确定[J]. 电子与信息学报, 1992, 14(2): 217-220.
引用本文: 郑茳, 黄勤, 张佐兰, 魏同立, 林慈, 韦钰. LB单分子膜中电荷密度的确定[J]. 电子与信息学报, 1992, 14(2): 217-220.
Zheng Jiang, Huang Qin, Zhang Zuolan, Wei Tongli, Lin Ci, Wei Yu. DETERMINATION OF CHARGE DENSITY IN LB MONOFILM[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1992, 14(2): 217-220.
Citation: Zheng Jiang, Huang Qin, Zhang Zuolan, Wei Tongli, Lin Ci, Wei Yu. DETERMINATION OF CHARGE DENSITY IN LB MONOFILM[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1992, 14(2): 217-220.

LB单分子膜中电荷密度的确定

DETERMINATION OF CHARGE DENSITY IN LB MONOFILM

  • 摘要: 本文介绍了一种新的测定单层LB膜中电荷密度的C-V方法,解决了常规C-V方法的不精确问题。通过对硬脂酸C20H40O2膜中电荷密度的测定,表明此方法实用可行。
  • 专集,日本科学与技术,No. 2, (1987), pp. 1-76.[2]J. P. Lloyd et al., Thin Solid Films, 99(1983) 1, 297-304.[3]S. M. Sze, Physics of Semiconductor Devices. 2nd Ed. wdley, New York, (1981), pp. 362-379.
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出版历程
  • 收稿日期:  1990-05-22
  • 修回日期:  1991-09-18
  • 刊出日期:  1992-03-19

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