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一种新的故障测试率的概率估计方法

丁瑾 胡健栋

丁瑾, 胡健栋. 一种新的故障测试率的概率估计方法[J]. 电子与信息学报, 1995, 17(1): 55-59.
引用本文: 丁瑾, 胡健栋. 一种新的故障测试率的概率估计方法[J]. 电子与信息学报, 1995, 17(1): 55-59.
Ding Jin, Hu Jiandong. A NEW PROBABILISTIC APPROACH TO ESTIMATE TESTABILITY[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1995, 17(1): 55-59.
Citation: Ding Jin, Hu Jiandong. A NEW PROBABILISTIC APPROACH TO ESTIMATE TESTABILITY[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1995, 17(1): 55-59.

一种新的故障测试率的概率估计方法

A NEW PROBABILISTIC APPROACH TO ESTIMATE TESTABILITY

  • 摘要: 本文提出了一种新的估计故障测试率的方法。它使用了无故障模拟的概念,观察率和控制率被定义成观察和控制电路节点的概率;分析了电路中节点的随机信号的概率分布;证明了控制率是服从正态分布的;依此获得了故障测试率的无偏估计。按照观察率的定义,我们处理了扇出节点。对一些实际的电路,利用此法所获得的故障覆盖与故障模拟结果非常吻合。
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出版历程
  • 收稿日期:  1993-09-28
  • 修回日期:  1994-05-03
  • 刊出日期:  1995-01-19

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