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ELVQ算法实现宽参数偏移的多故障电路诊断

徐崇斌 赵志文 郑慧芳

徐崇斌, 赵志文, 郑慧芳. ELVQ算法实现宽参数偏移的多故障电路诊断[J]. 电子与信息学报, 2011, 33(6): 1520-1524. doi: 10.3724/SP.J.1146.2011.00011
引用本文: 徐崇斌, 赵志文, 郑慧芳. ELVQ算法实现宽参数偏移的多故障电路诊断[J]. 电子与信息学报, 2011, 33(6): 1520-1524. doi: 10.3724/SP.J.1146.2011.00011
Xu Chong-Bin, Zhao Zhi-Wen, Zheng Hui-Fang. Multi-fault Diagnosis for Wide-deviation Analog Circuits Based on ELVQ Algorithm[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 2011, 33(6): 1520-1524. doi: 10.3724/SP.J.1146.2011.00011
Citation: Xu Chong-Bin, Zhao Zhi-Wen, Zheng Hui-Fang. Multi-fault Diagnosis for Wide-deviation Analog Circuits Based on ELVQ Algorithm[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 2011, 33(6): 1520-1524. doi: 10.3724/SP.J.1146.2011.00011

ELVQ算法实现宽参数偏移的多故障电路诊断

doi: 10.3724/SP.J.1146.2011.00011

Multi-fault Diagnosis for Wide-deviation Analog Circuits Based on ELVQ Algorithm

  • 摘要: 该文提出了一种强化自适应策略的学习矢量量化(Enhanced Learning Vector Quantization, ELVQ)算法,并设计了基于SOM(Self-Organizing Map)-LVQ模型的故障分类方法,用于实现宽参数偏移的模拟电路多故障诊断。该文算法具有两方面的优势:一方面利用获胜神经元数目的自适应,均衡了神经元的获胜概率;另一方面根据样本分类结果计算作用因子修正神经元的权值,增强了类别边界决策性能。仿真结果表明,所提出的算法具有收敛速度快,分类误差小等特点。
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出版历程
  • 收稿日期:  2011-01-06
  • 修回日期:  2011-03-24
  • 刊出日期:  2011-06-19

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